| 奥波WT-B系列脉冲式线圈测试仪（数字式匝间仪）的自动测试原理是什么？ |
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| 答：WT-B系列脉冲式线圈测试仪以MCU信息处理系统为核心，由它控制高压脉冲发生器对线圈施加一次 |
| 极短时间的高压脉冲，进行匝间绝缘耐压试验。典型的线圈自激衰减振荡波形见图1，其瞬态波形模拟 |
| 信号经速率可高达25nS/次(采样频率40MHz)的高速A/D转换器转换成数字信号后馈送至MCU系统进行时 |
| 间、幅值、面积、相位等参数的运算，处理结果保存在MCU信息处理系统的电子存储器中，并用直观易 |
| 懂的文字、数据及图形显示在240×320点阵的LCD上，从而保证了波形重现的真实性。 |
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图1：典型的线圈自激衰减振荡波形 |
| 图1中的自激振荡衰减波形直接和线圈的电感值L及品质因素Q值有着密切的关系，而L值及Q值又和 |
| 线圈的圈数、结构及制造工艺（非空心线圈还与铁心材料特性）又有着不可分割的牵连，施加的试验电 |
| 压又是高压脉冲电压，因此，当线圈有短路、匝间局部短路或由于绝缘损伤引起的层间或匝间放电现象 |
| 自然很容易地被发现，即使是由于线圈内部绝缘不良引发的电晕放电，本仪器的优异特性也可使其电晕 |
| 放电波形真实再现。 |
| WT-B系列脉冲式线圈测试仪根据预先设定的参数(如所要求施加到线圈端的高压脉冲峰值电压等)， |
| 通过高精度数字/模拟转换器(D/A)对高压开关电源发生器设定电压(并非是要求施加到线圈端的高压脉 |
| 冲峰值电压)，利用高压可控硅模块的开关作用对标准线圈进行脉冲电压试验，仪器自动将线圈的各类 |
| 基本参数采集保存。用户可调用这些信息进行人工目测判别，亦可对被试线圈进行自动判别。如需对被 |
| 试线圈进行自动判别时，用户可全部或部分采用下文所述的波形面积比较、波形差的面积比较、波形相 |
| 位判别、电晕放电量比较等四种判别方法设定自动判别线圈品质优劣的条件，并将该标准线圈的波形进 |
| 行编号，然后存储这些相关信息；而对被试线圈的试验只需调用相对应的标准线圈波形编号，按一下启 |
| 动按钮即可得到测试判别结果，仪器同时用直观易懂的文字、数据、图形及声光报警形式报告被测线圈 |
| 的品质优劣。如此高度自动化的一按即知结果的简单操作，使一般生产线上的普通人员都能轻松自如地 |
| 掌握本仪器的操作，大大提高了工作效率。 |
| WT-B系列脉冲式线圈测试仪提供四种典型的自动检查判断方法， 用户可以根据被测线圈的实际情 |
| 况，全部或部分采用；对应每一种判断方法，均可任意设定、修改临界判断门限，以达到正确、快速检 |
| 查判断不同线圈品质优劣的目的。具体检查判断方法如下： |
| a、波形面积比较：如图2所示， 在任意指定的A－B区间内对被测线圈实测波形面积进行(积分)计 |
| 算，并与标准波形在此区间内的面积进 行比较，用这两个波形面积的差异值与标准波形的面积的百分 |
| 比作为判定依据，判定基准用百分比来设定。线圈波形面积的大小与线圈内的能量有密切的关系，此方 |
| 法根据能量损失的大小来判断线圈的优劣。 |
| b、波形差的面积比较：如图3所示，在任意指定A－B区间内对被测线圈实测波形和标准波形的Y轴 |
| 方向的差异值进行计算(积分计算的结果为A－B区间内的阴影部分) 和标准波形在此区间的面积比较， |
| 用这两个量的百分比作为判定依据，基准用百分比来设定。此方法可较全面地检查线圈的电感L值及能 |
| 量损失。 |
| c、波形相位比较：如图4所示，任意指定的A－B区间内，计算被测线圈实测波形在该区间内的振荡 |
| 周期，并与标准波形在该区间内的振荡周期进行比较，并用这两个量的百分比作为判定依据，基准用百 |
| 分比来设定。由于波形的振荡周期与线圈的电感L密切相关，此方法可偏重于检查线圈的电感L值。 |
| d、电晕放电量比较：如图5所示，与波形的差异无关，在任意指定的A－B区间内，仅在被测线圈实 |
| 测波形包含的电晕放电尖峰中检出高频成分进行面积(积分)计算，并将计算结果与设定值进行比较，判 |
| 定电晕放电量是否合格。 |
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图2：波形面积比较示意图 图3：波形差的面积比较示意图 |
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图4：波形的相位比较示意图 图5：电晕放电量比较示意图 |
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